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Congrès Métrologie

du 19/09/2017 au 21/09/2017 (Clos)
Paris Expo porte de Versailles

Le 18ème congrès international de métrologie réunit les industriels, les laboratoires et les universités et est l’occasion de présenter les évolutions techniques en métrologie et les implications pour l’industrie, les avancées de la R&D et la métrologie liée aux technologies innovantes, ainsi que les outils de la métrologie pour améliorer la performance des processus industriels et maîtriser les risques.

Depuis 2009, les éditions organisées à Paris, ont fait de ce congrès un point de rencontre  incontournable pour tous les acteurs européens de l’industrie et de la recherche et développement dans le domaine de la métrologie.

L’édition 2017 est orientée sur la thématique « Mesurer pour Inventer le Futur », axe majeur autour des sujets liés à l’Usine du futur et la performance économique des entreprises.

Les thèmes directeurs des conférences du CIM de 2017 porteront sur les sujets suivants :

  • la maîtrise des processus de mesure, d’analyse et d’essais : les incertitudes de mesure, la traçabilité, les comparaisons inter-laboratoires, la formation, l’optimisation des coûts, la certification ;
  • les techniques de mesure et leurs évolutions pour toutes grandeurs et notamment : masse, force, débit, pression, dimensionnel, électricité, temps-fréquence, température et hygrométrie, optique, mesures chimiques ;
  • les domaines règlementaires et les reconnaissances internationales ;
  • les perspectives et les nouveautés du secteur, notamment :

- la métrologie et la mesure dans l’usine du futur : fabrication additive, traitement des données, objets connectés, drones et les nouveaux outils de mesure ;
- les évolutions des définitions des unités du système international à l’horizon 2018 et les conséquences pour l’industrie ;
- la mesure dans les préoccupations environnementales : les réseaux intelligents, les smart cities, le cycle de vie des produits, l’éco-conception, les sources et les consommations d’énergie ;
- les nanotechnologies et les mesures en particulier pour les applications médicales et spatiales.

Ce congrès porte sur une des priorités du Gouvernement en matière de politique industrielle. Cette subvention constitue l’unique action de soutien de la DGE à la métrologie industrielle, levier au service de la compétitivité des entreprises.

 

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