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6ème rencontre annuelle du club nanoMétrologie

du 29/09/2016 au 01/12/2016 (Clos)
CASC, 139, rue de Bercy, Paris 12e


Le programme de la 6ème rencontre annuelle

S'inscrire au colloque du 1er décembre 2016

Les nanotechnologies font déjà partie de notre quotidien que cela soit au travers des technologies de l’information et de la communication, des produits de santé ou encore de produits de consommation divers et variés. Que cela soit pour optimiser les coûts associés à leur développement (contrôle qualité, maitrise des propriétés, passage de l’échelle laboratoire à l’échelle industrielle...), évaluer la toxicité de ces nouveaux matériaux ou pouvoir répondre aux réglementations qui se mettent en place pour encadrer les risques potentiels associés à leur utilisation, l’obtention de données de caractérisation fiables et comparables entre les laboratoires s’avère primordiale.

Les techniques analytiques adaptées aux différentes problématiques n’existent cependant pas toujours et lorsqu’elles sont disponibles ne donnent pas forcément des résultats de qualité suffisante. Des avancées sont donc nécessaires du point de vue de la métrologie et de la normalisation des protocoles de mesure à l’échelle « nano ». C’est pour avancer sur ces différentes questions et rapprocher les communautés académique et industrielle que la DGE a soutenu en 2011 la création du Club nanoMétrologie par le Laboratoire National de métrologie et d’Essais (LNE) et le CNRS.

Après le succès de la dernière édition de son colloque annuel, les 6èmes Rencontres Annuelles en nanométrologie seront organisées à Paris dans les locaux du Ministère de l'Économie, de l'Industrie et du Numérique à Bercy le premier décembre 2016. Elles seront l’occasion de présenter la démarche du Club nanoMétrologie pour renforcer les liens entre les différents acteurs du domaine des nanosciences et nanotechnologies, de faire un bilan des actions menées par les trois groupes de travail actifs au sein du Club et de proposer un tour d’horizon des problématiques actuelles en termes de besoins de mesures dans le domaine des nanotechnologies.

Crédits photos : © Club nanoMétrologie

 

Illustration nano métrologie