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17ème congrès international de la métrologie

du 21/09/2015 au 24/09/2015 (Clos)
Parc des expositions, Porte de Versailles, Paris

Mesurer, analyser et innover : le défi permanent ! Le Congrès International de Métrologie (CIM) 2015 rassemblera à Paris, tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs de moyens de mesure, experts, laboratoires, fabricants et prestataires. Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et les applications industrielles. Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.


Les thématiques phares de 2015 :

Maîtrise des risques, Transition énergétique et Santé sont illustrés pendant la manifestation qui couvre également tous les secteurs : analyses et essais, incertitudes, optimisation des coûts, nanotechnologies, métrologie sensorielle.

Plus de 1 000 participants industriels et scientifiques en provenance de cinquante pays y sont attendus.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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